技术编号：16587177
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于显示技术领域，具体涉及一种键合不良的检测方法和一种键合不良的检测装置。背景技术在制作发光二极管显示装置时，通常需要将驱动芯片键合在发光二极管显示面板上。其中的一类驱动芯片也称为Source IC，其具有的数据输出引脚与该发光二极管显示面板中的数据接收线键合(也称bonding或绑定)，从而由Source IC向发光二极管显示面板提供数据电压。通常一个发光二极管显示面板对应一个Source IC，当然，如果该发光二极管显示面板的数据接收线数量过大时，也会设置两个或多个Source IC，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。