技术编号：16595888
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术已产生、修改以及演进各种技术以用于测试功能性核心，包含逻辑和存储器，以及集成电路(integrated circuit；IC)上的其它电路，或印刷电路板(printed circuit board；PCB)上的多个IC。早期的“钉床”测试技术具有局限性，尤其由于IC中增加的更大规模、更高复杂度和不可接入节点，以及考虑到密集封装的多层PCB。因此，当代的测试通常更(或完全)自动化，且通常涉及输入数据到IC、在输入数据上执行一或多个时钟循环，且随后捕获和输出结果，其中可随后例如通过比较它们与...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。