技术编号:16599145
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光谱测量方法,尤其涉及一种基于受激布里渊散射(stimulated Brillouin scattering,简称SBS)边带整形的光谱测量方法及装置。背景技术随着光子技术的飞速发展,近年来不断涌现的宽带业务、不断提高的服务质量要求、以及不断指数增长的接入设备,使得光纤宽带网络成为一个重点发展内容。密集波分复用技术(Dense Wavelength Division Multiplexing,DWDM)以及其它高速调制技术的发展及应用成为必然趋势。然而,随之带来的是光信息系统单个信...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。