技术编号:16601230
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种基于多通道测量的液晶偏振特性实时检测系统及方法。背景技术液晶凭借其独特的物理化学特性和光场调制能力在当今工业生产及科学研究中发挥着重要作用,除显示领域外,在诸多非显示领域也存在诸多应用,如传感器、计量测试、光学仪器等。其偏振特性对于探究以液晶为代表的单轴类双折射晶体本身的双折射性质有这非常重要的意义。现有的针对液晶器件偏振特性的测量系统多采用起偏器-待测液晶-检偏器(PSA)作为系统框架,其工作原理为:在测量过程中需要在起偏器与检偏器偏正方向平行或垂直的情...
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