技术编号：16605628
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测绘与计算机视觉技术领域，特别是一种适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校方法。背景技术当前对测绘相机进行实验室检校主要采用室内控制场检校法和平行光管法开展。其中室内控制场检校法针对小幅面或短焦距相机十分有效，但针对长焦距、大幅面相机的检校需要布设大范围的三维控制场，在有限的实验室环境下难以实施。平行光管法能够构建无穷远处的光线，克服了实验室内场地限制的困难，能够实现传统相机的检校。但由于平行光管法使用的精密测角步骤需要依据初始的像主点位置来计算各个量测点的像高值，对于初始主点位置区...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。