技术编号：16636724
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例涉及存储器技术领域，尤其设计一种存储器自动检测和修复的方法及装置。背景技术存储器中的芯片，在出厂前会被批量测试，来检测存储单元是不是有故障，当检测到故障时，会对故障的存储单元进行修复。那么，用户在使用存储器的过程中，当存储器出现故障的时候，如何修复是一个亟待解决的问题。目前存储器的趋势是密度越来越高，内部走线越来越密集，位线或者字线之间短接、断接现象也较为严重。因此存储器在出厂前，需要进行大量测试，这些过程影响产品面向市场周期，且耗费大量人力、物力。另外，出厂前存储器修复结果会固化到...
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