技术编号：16642520
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光测量技术领域，具体而言，涉及一种光热吸收测试系统和光热吸收测试方法。背景技术长期以来，光学材料的激光诱导损伤问题是高功率激光光学材料生产领域的重要问题，与损伤物理机制相关的理论研究能为材料生长工艺改进提供方向指导。其中，光学材料的激光诱导损伤通常与材料自身光学缺陷相关，这些缺陷包括杂质缺陷、电子缺陷、结构缺陷等多种类型。然而，缺陷诱导损伤的物理机制十分复杂，通常认为各类缺陷对激光能量的热吸收构成了损伤早期能量来源，探测材料表面光热吸收大小对理解缺陷诱导损伤行为的机理具有重要意义。目...
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