技术编号:16657808
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种光学检测设备,尤其是涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。背景技术自动光学(缺陷)检测机在半导体芯片,封装器件和电路印刷版等各个行业是广泛使用的检测设备,用于检测产品外观,以及关键尺寸是否合规的一类设备。随着半导体产业升级,产品精致化,严格化,已经新的封装技术,涂层技术,相关材料科学的进步和升级,自动光学(缺陷)检测机在物理光学照明和成像手段、测量操作方式和软件算法上都有更新和升级。过往的应用于LED灯珠封装的自动光学缺陷检测机一直采取对单颗LED灯珠进行逐个检验的形式...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。