技术编号:16737905
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电磁学领域,涉及一种低驻波比天线结构。背景技术我们通常用频率、幅度和相位三个参数来表征一个电磁波信号。在电磁信号的三要素中,相位测试的难度最大。这是因为相位测试对测量环境、测试系统的稳定性要求很高。尤其是反射式测试,任何微小的空间位移都会带来测试数据的明显变化。这是因为反射测试时,反射面空间位置重复性将直接影响测量结果的重复性,这一点与透射法是不同的。但在某些情况下,还必须用反射法测试产品的反射相位。比如很多雷达罩广泛采用了夹层结构,夹层结构罩体在设计中对各层蒙皮和蜂窝均提出了不同成型...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。