技术编号:16744749
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开的实施例涉及一种阻变存储器测试方法以及测试装置。背景技术随着人工智能的快速发展,基于传统的CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)电路的神经网络计算因为高能耗等缺点难以支撑人工智能涉猎更复杂的场景。阻变存储器因为具有高速、低能耗、易于尺寸缩小以及与CMOS电路兼容的优势被认为是有望实现神经网络系统的新兴器件。然而,神经网络训练过程中需要进行大量的权重更新操作,这对阻变存储器的耐久性(endurance)提出了要求;另外...
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