技术编号:16851872
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试技术领域,特别涉及一种太赫兹焦平面响应率及响应率不均匀性测试系统及方法。背景技术太赫兹焦平面探测器是一种可以获取太赫兹信号并且进行实时成像的探测器件,其性能参数的优劣,决定了太赫兹探测技术的应用及发展。响应率及响应率不均匀性是阵列探测器最重要的参数之一,太赫兹焦平面探测器也不例外。像元响应率定义为在一定的帧周期或行周期条件下,太赫兹探测器各像元对每单位辐射功率产生的输出信号电压。因此,响应率的测试可归纳为两种不同太赫兹辐射功率条件下的响应电压测试,在测得响应电压后,响应率及响应率不...
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