技术编号：16892374
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请是申请日为2014年03月12日、申请号为201480027747.4、发明名称为“离子修饰”的中国发明专利申请的分案申请。技术领域本公开涉及装置和方法，且尤其涉及光谱仪和光谱测定方法。背景技术离子迁移光谱仪(IMS)能够通过将感兴趣的样本中的材料(例如分子、原子等等)电离以及测量由此产生的离子在已知电场中行进已知距离所耗费的时间来识别该材料。离子的飞行时间能够通过检测器测量，并且该飞行时间与离子迁移性相关联。离子迁移性与离子的质量和几何结构相关。由此，通过在检测器中测量离子的飞行时间，可...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。