技术编号：16934602
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学遥感实验中光辐射观测仪器技术领域，具体地，涉及辐射设备光学器件的余弦响应检测装置。背景技术余弦响应是光辐射测量仪器的主要性能指标之一。为了检测辐射传感器的角度响应能力，国家气象局计量站采用一种角度响应测量装置，将待测辐射仪固定在转动台上，通过转动台的旋转实现模拟光束在2π半球空间的360度方位角和90度高度角范围内的入射角度变化。由于该类装置不能检测重量和体积较大的设备，对辐射测量仪器余弦响应检测，目前还存在以下问题：1)只能对传感器整套设备进行余弦响应检测，不能检测某些关键光学部...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。