技术编号：16937084
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种空心圆柱体试件轴向缺陷超声C扫描检测方法，适用于超声扫描显微镜检测及超声波C扫描检测领域。背景技术超声扫描是检测材料内部缺陷的一种无损检测手段，它具有分辨率高，检测结果直观，检测效率高等优点。由于某些试件制造工艺还不够完善，所以会导致试件内部出现孔洞、裂纹、夹杂、混合物颗粒分布不均匀等缺陷，削弱了材料的力学性能，降低了结构的使用性能，甚至造成严重的后果，因此可用超声检测法进行质量控制。超声C扫描成像原理是通过提取超声波的反射回波，在试件的x-y二维平面上生成缺陷所在处的截面图。超声...
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