技术编号:16943903
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种分选方法,具体涉及一种裂纹陶瓷体的分选方法。背景技术多层陶瓷电容器的制备过程中,由于材料和加工的原因,可能产生裂纹不良品。比如因为陶瓷膜片之间结合不良造成切割后的生坯芯片形成裂纹,又如因为烧成过程内电极和陶瓷之间收缩失配而使陶瓷体产生裂纹,又如因倒角过程中陶瓷体受到过大撞击而产生裂纹。裂纹一般形成在陶瓷体的垂直于内电极层的四个侧面,其中形成在引出内电极的两个侧面的裂纹习惯上称为端裂,形成在另外两个侧面的裂纹习惯上称为侧裂。目前一般采用人工肉眼分选或外观检测机分选裂纹陶瓷体。但裂纹往...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。