技术编号:17064897
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于精密仪器制造和精密测试计量技术领域,主要涉及一种基于透射光栅的高精度滚转角测量方法与装置。背景技术精密小角度测量是几何计量探测的基础和重要组成部分,在微电子制造、精密装备制造与校准、光学元件加工与探测、航空航天以及船舶工业中大型设备的加工与装配、以及科学研究和工程制造等领域有广泛应用,随着相关领域的不断发展,对角度的测量精度与测量稳定性的要求也随之提高。机械运动一般存在三个方向的角度误差,及偏摆角误差、俯仰角误差和滚转角误差。其中,偏摆角和俯仰角误差可以通过激光干涉方法和自准直方法等测...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。