技术编号：17070631
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于材料分析测试技术领域，具体涉及一种用于批量测试的二维阵列进样装置。背景技术中子小角散射技术是一种研究材料中纳米微结构的理想测试方法。这主要源于中子探针的系列优势特点，包括深穿透特性、可区别轻原子、近邻原子及同位素，以及低能量可无损测量等。通过小角散射可以获得材料内部纳米尺度范围内微结构形貌、尺寸、分布等各种信息。该技术具有统计性好，样品制备简单等优势，在高分子、生物以及材料研究中都有广泛的应用。特别地，在结构材料的微结构研究中具有独特的优势，可以获得材料内部纳米尺度的不均匀结构信息，包...
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