技术编号:17070813
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体材料测量技术领域,特别是指一种半导体致冷晶棒测试仪及测试方法。背景技术温差电动势率和电阻率用以表征材料的输电性能,是半导体材料的重要参数。半导体温差电动势率和电阻率的测量方法、原理在一些书籍中均有记载,按书籍中的记载,温差电动势率和电阻率的测试电路不同,需采用两电路、方法对半导体的温差电动势率和电阻率进行测量,且测量结果的计算、处理较低能,需人工处理,其只适合实验室使用,不适合生产型企业。发明内容本发明提供了一种半导体致冷晶棒测试方法,其包括以下步骤:步骤S100:测量第一探头和...
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