技术编号：17095792
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及芯片调试领域，特别是一种基于PCIE与FPGA结合的多核JTAG调试代理系统。背景技术随着SoC系统设计技术的快速发展，SoC芯片内部频率越来越快，编写及运行程序越来越大。针对多核开展基于JTAG协议的多核调试架构优化、通讯机制优化等关键技术的研究，进而设计完成一个基于PCIE接口的JTAG仿真器，构建一套完整的多核调试环境，无论从节约时间还是提高资源利用的角度上看都将带来很大的提高。传统的单核调试模式，在调试速度方面呈现出诸多不便，并且现有的JTAG调试系统无法满足多核调试体系结...
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