技术编号:17096863
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及电学技术领域,具体涉及一种边界测试电路及存储器。背景技术在现代电子应用系统中,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小、微、薄发展,元器件的管脚数和管脚密度不断提高,使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”测试方法已不能满足要求。在这种背景下,边界扫描测试应运而生。边界扫描测试是通过在芯片的每个I/O管脚附加一个边界扫描单元(Boundary Scan Cell,简称BSC)以及一些附加的测试控制逻辑实现的,BSC主要是由寄存器组成的。芯片的每个I/O管脚都有一个BSC,每个B...
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