技术编号:17140740
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子装置的检测技术领域,尤其是涉及一种用于电子装置的平整度检测治具。背景技术电子装置例如手机常常因为手机上盖变形导致屏内团类不良,因此需要检测上盖的平整度。相关技术中,主要是通过操作人员目视检测上盖的平整度,由于操作人员在检测时,没有参照物,只能靠感觉判断平整度是否有问题,很容易漏检。实用新型内容本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种用于电子装置的平整度检测治具,所述平整度检测治具结构简单且便于检测上盖的平整度。根据本实用新型实施例的用于电子装...
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