技术编号:17151172
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于三维测量技术领域,具体涉及一种基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法。背景技术全场三维测量在质量检测、逆向工程、交互式设计、医疗、农业等领域有着越来越广泛的需求,国内外对于三维测量技术的研究也日益广泛,涌现出了一批特点各异的光学三维测量方法。圆条纹投影轮廓术是发明人所在团队近期提出的一种新型光学三维测量技术,为机械零部件等的高精度三维测量提供了一种新选择。但该技术高度重建采用反正切函数,因而在共轴布置时,采样圆条纹图零相位点存在测量盲区,其附近区域存在对噪声的放大效应,会显...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。