技术编号:17151662
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种根据权利要求1的前序部分所述的测试系统。背景技术EP 0 633 478 A2公开了一种用于检查电子的结构组件与所要检查的电路板的电子连接部的测试系统。这种测试系统被渐渐发展。因此,电极能通过铰接部和/或机械臂被引近到电路板上,并且例如通过电阻测量来获知钎焊连接部是否被正确地定位以及是否能经由该钎焊连接部实现电路板的电子的结构组件的电接触。对电接触的测试通过电阻测量来进行。由于错误定位、由于错误的装备或其它原因,可能会在电路板的表面上出现过度的发热。在用电阻测量的现有的测试系统中没...
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