技术编号:17155478
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及晶体参数测试领域,尤其涉及一种石英晶体参数测试装置及测试方法。背景技术石英晶体测试系统在参数测试中需要使用特殊的测试夹具,称为π网络夹具。目前,现有技术的直插式π网络夹具使用接触簧片,带来测试误差大的问题。由于接触簧片是常闭状态,接入晶体时需要用晶体引脚用力插入,外力会对晶体本身结构造成影响,且对精密的标准晶体长期漂移特性影响大;晶体结构形变导致测量结果变化大。另外,同一晶体多次插入夹具的位置不定、接触簧片不易清洁,也导致对测试结果不利影响。因此,对于石英晶体测试系统测试夹具,需解决石...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。