技术编号:17173528
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种光学测量仪,尤其涉及一种杨氏模量测定仪。背景技术拉伸法测量被测材料的杨氏模量需要专门的杨氏模量测量仪进行测量,需要读出被测材料被拉伸的伸长量和被测材料被拉伸所需的力,被测材料被拉伸的伸长量通常采用由反射镜、标尺和望远镜系统组成的光杠杆获取被测材料被拉伸后光线偏移量或者偏移角度来换算得出;目前,常规的杨氏模量测量仪一般是通过在被测材料底部增减砝码来拉伸被测材料并得出施加在被测材料上的力,该种结构操作不便,而且砝码悬挂在被测材料底部,容易晃动,影响对光线偏移量的观察精度,从而会影响...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。