技术编号：17183204
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及中子照相技术领域，尤其涉及一种快速中子成像系统。背景技术中子照相是一种利用不同材料的中子质量衰减系数不同而获取样品内部结构的射线无损检测方法。快中子的高能量使得它比热中子和冷中子具有更高穿透能力，这就为实现一些厚重物体的内部信息检测提供了条件。快中子照相技术在厚重样品或大件的现场检测等方面弥补了热中子照相技术及x射线照相技术的不足，是对热中子照相技术及x射线照相技术的重要补充。快中子照相具有广阔的应用空间与发展前景，特别是在航空航天、核材料、反恐、海关检验等领域具有优势。但一直以来快中...
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