技术编号:17211510
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于计算成像技术领域,尤其涉及一种基于压缩X射线断层合成的联合优化方法。背景技术目前,X射线计算机断层扫描技术(X-ray computed tomography,简称CT)已广泛应用于临床诊断、安全检查、工业检测等领域,但是传统的CT会围绕对象进行完全一周的测量,并利用计算机处理的算法,如滤波反投影算法(filered back-projection algorithm,简称FBP)重建对象,这样就大大增加了辐射剂量,采集时间和测量的成本及几何复杂度。X射线断层合成技术(X-ray to...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。