技术编号:17242174
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于原子磁强计关键性能参数测量和分析领域,具体涉及一种基于电子共振相频分析测量原子横向弛豫时间的方法。背景技术原子自旋横向弛豫时间是表征原子磁强计性能好坏的关键参数,因此需要对其进行测量。测量原子自旋横向弛豫时间常见和准确的方式是测量原子磁强计的磁共振线宽,通过磁共振线宽进而计算出原子自旋横向弛豫时间的大小。目前普遍采用的磁共振线宽测量方法主要有同步光抽运方法和电子自旋共振方法。同步光抽运方法是利用一个光学斩波器对抽运光的光强进行调制,当斩波器的调制频率与原子的拉莫尔进动频率接近时将实现磁...
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