技术编号：17243788
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及化学分析和环境监测领域，具体涉及一种使大气滤膜保持平整以便用全反射X光荧光光谱仪(TXRF)直接测量滤膜载大气颗粒元素成分的压环装置。背景技术目前我国有30％的环保重点城市和17％的地级市的空气质量达不到国家二级标准。以PM2.5为代表的大气颗粒物已经成为威胁中国人生命健康的最大因素之一。除了需要测量大气中颗粒物的含量，还需要快速地分析空气滤膜载大气颗粒物的元素成分，以便判断大气颗粒的潜在毒性,并为确定污染源提供线索。目前测量大气颗粒物的元素成分主要有三种手段，电感耦合等离子体质谱...
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