技术编号：17252995
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于FPGA测试领域，涉及一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置。背景技术航天应用领域中，对集成电路需求不断增加，大规模、高集成度的集成电路越来越普遍，现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，以下简称FPGA)在航天集成电路中占有重要席位。但是，在空间运行的集成电路会直接暴露在空间辐射环境中，辐射产生的效应会造成FPGA性能下降，严重时可能导致功能错误甚至失效。空间辐射效应应分单粒子效应和总剂量效应，单粒子效应对FPGA影响更为明显...
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