技术编号:17296597
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请实施例涉及电路技术领域,尤其涉及提供一种针对集成电路的测试系统。背景技术在使用自动化测试设备(Automatic test equipment,简称ATE)对集成电路(Integrated circuit,简称IC)进行测试时,经常会将自动化测试设备ATE的设备电源电连接到待测对象(Device Under Test,简称DUT)。为实现与待测对象DUT的电连接,设备电源通常配置有驱动线(又称之为FORCE线,以下简称F线)和检测线(又称之为SENSE线,以下简称S线)。F线主要用于给待测...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。