技术编号：17301681
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种整流、开关、肖特基二极管高温性能测试电路。背景技术半导体器件生产过程中，器件高温特性参数的质量考核是其中的一项重要内容。整流、开关、肖特基二极管高温性能试验测试台是将生产的产品按照产品所规定的试验要求，加上规定的功率负荷，工作于高温环境下完成高温反向漏电流的准确测试。整流、开关及肖特基二极管的高温性能负荷试验测试是在模拟器件的实际工作状态下进行的，在交流电压的大小和方向都随时间作周期性变化的周波内，被试器件正半波加正向电流，负半波加反向峰值电压，在加有正向电流与反峰值电压的情况下，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。