技术编号：17305716
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术离子迁移谱(IMS)被用于通过对样本气体的构成离子进行飞行时间分析来确定样本气体的组分。为了实现该目的，样本气体的中性原子遭受电离处理，该电离处理包括：由高能电子进行直接轰击以促使从中性原子或分子中释放次级电子并产生主正(+)离子；使低能电子依附于中性原子或分子上以产生负(-)离子；在离子与中性原子或分子之间进行化学反应和电荷交换；将离子依附于中性原子或分子上；以及在带电粒子之间执行重组过程。在离子的组分已经稳定之后，通过使用均匀电场来控制这些离子定期进入漂移管的漂移区内。一旦进入到漂移...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。