技术编号:17322779
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及影像测量领域,尤其涉及一种测量坐标校正方法和系统。背景技术目前对待测物体的量测主要有两种方式,一种是利用探针直接接触待测物体进行量测(称为探针量测系统或“接触式量测系统),另外一种是利用光学耦合镜头(Charge Coupled Device,CCD)获取待测物体的影像进行量测(称为影像量测系统或非接触式量测系统),现有的测量设备上通常同时配备有探针测量系统和影像测量系统。由于探针测量系统没有设置观察镜头,在利用探针进行电阻率测量时,直接以作业文件坐标作为量测坐标,然后移动探针到量测坐...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。