技术编号:17386986
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及核辐射探测技术领域,特别是一种采用静电收集法测氡仪测量氡在薄膜中有效扩散系数的装置及方法。背景技术氡是一种对人体有害的放射性惰性气体,空气环境中氡主要来自于介质表面的析出。由于矿山辐射防护和室内氡污染问题,需要使用致密的薄膜来阻挡氡进入工作和居住环境。氡在薄膜中有效扩散系数可以用来评价薄膜对氡的阻挡性能,现有的测量氡在薄膜中有效扩散系数的方法一般是用一块薄膜将测量室的内腔分为两个测量腔,其中一个测量腔注入高浓度氡,高浓度的氡通过扩散效应通过薄膜进入另一个测量腔,比较两个测量腔稳态或动态...
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