技术编号：17389045
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及涂层检测领域，尤其涉及一种涂层检测方法、装置以及计算机存储介质。背景技术涂层质量是否符合标准，对于产品质量起到至关重要的影响。现有技术中，通常采用解剖涂层的方式检测涂层质量，专业人员通过解剖得到的涂层判断涂层质量是否符合标准。然而，解剖涂层通常会对涂层产生一定损耗，可能导致产品因涂层的损耗而报废。发明内容本发明解决的技术问题是涂层检测对涂层本身产生损耗。为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种涂层检测方法，包括：令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；获取所述超声波传...
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