技术编号：17419175
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种用于COC老化测试台的驱动源表。背景技术随着社会的不断发展，某些物品使用的时间长久之后，人们会对其进行特别的检测，判断其究竟是否老化，是否可以继续使用，COC芯片在使用一段时间之后也需要对其进行检测，在检测的时候就需要用到COC老化测试台，而COC老化测试台包括驱动源表这个结构，而一般的驱动源表拆卸非常不便，拆卸过程繁琐且浪费时间；另外一般的驱动源表其内部空间有限，在狭小的空间内安装零件非常不便，且在维修的时候，容易碰到其他零件，造成其他零件的损坏。...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。