技术编号:17437665
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于芯片测试领域,特别涉及一种针对32位MCU芯片产品性能的测试方法及其芯片生产过程中的产品良率控制方法。背景技术目前的32位MCU芯片模拟信号量的测试大多在研发阶段进行测试,完成测试后缺少对量产CP阶段主要模块性能进行有效监控,同时芯片会由于设计、工艺及封装等因素影响产品的品质,使得客户端会由于批次工艺偏差导致的应用问题及批次良率低下,这无疑会增加公司的客诉量,严重影响品牌竞争力。目前的测试设备不能对批量测试的芯片进行良率分析和控制,极大的限制了研发端对芯片设计水平的改进和盈利能力提升,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。