技术编号:17437869
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及可控硅触发导通检测领域,特别是涉及一种可控硅触发导通检测装置。背景技术在大功率整流电源中,可控硅的可靠触发是保证整流电源稳定工作的关键。目前检测可控硅工作是否稳定的方法是通过检测可控硅输出电压或电流端波形的正确性,来确定可控硅是否被触发导通,由于可控硅使用环境常会出现低频强磁干扰,因此,上述检测方法需要配合复杂的滤波及分析电路或算法,可控硅触发导通检测过程复杂,此外,传统的可控硅触发导通检测方法还存在严重的电磁干扰,容易出现不电流或电压信号不规范造成无法测量的情况。发明内容本发明的目的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。