技术编号:17443358
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于加工误差几何测量领域,特别是涉及一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法。背景技术自由曲面由于本身优良的几何特征被广泛的应用,复杂的几何特征使得加工制造比较困难,同时在最终的产品表面上会包含各种来源的加工误差。因此,一种准确有效的测量和质量评估方法是必要的。三坐标测量机(CMM)被广泛的用于检测几何尺寸。装备触发式探针的三坐标测量机使用逐点方式检测表面[1],与之相比扫描式三坐标测量机大大减少了检查的时间消耗,并保持接触测量的精度[2]。根据ISO 1101[3],被评估零件的轮...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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