技术编号:17447434
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及边沿检测电路及触发器领域,具体涉及一种监测流水线中的触发器是否发生翻转的边沿检测电路及触发器。背景技术随着工艺尺寸的不断缩减,由辐射效应所导致的软错误变得越来越严重。当高能粒子轰击到存储单元的某一节点时,该节点的存储状态将发生翻转,从而诱发整个存储单元的翻转,这就是所谓的单粒子翻转效应(Single Event Upset,SEU)。对于发生在SRAM存储器上的SEU,可以利用错误纠码(Error Correction Codes,ECC)进行保护,然而,发生在触发器中的SEU则很难采...
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