技术编号:17475217
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光检测装置。背景技术作为光检测装置,已知有具备具有多个受光部的背面入射型的受光元件、电路元件、配置于受光元件与电路元件之间的凸块、配置于受光元件与电路元件之间的底部填料(underfill)的装置。在这种光检测装置中,为了进行受光元件和电路元件的可靠的接合,有时底部填料到达受光元件的侧面。但是,当底部填料到达受光元件的侧面时,因为受光元件是背面入射型,所以入射到底部填料并折射的光可能从受光元件的侧面向受光部入射。因为这种光是噪声光,所以当这种光入射到受光部时,使光检测装置的检测精度降低...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。