技术编号:17475341
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种阵列基板及微全分析装置。背景技术阵列基板上的晶体管的导通能力直接影响着数据传输的准确性。尤其是随着驱动电压的升高,晶体管的稳定性会受到很大的影响。即随着电压的升高,晶体管的阈值电压以及特性会变得很差,从而影响晶体管的导通特性。在相关技术中,通过增加晶体管的有源层图形的长宽比,可以提高晶体管的稳定性,在驱动电压增大时也可保证晶体管的导通特性不受影响,但是增加晶体管的有源层图形的长宽比就会占用像素区域更大的面积,导致像素的个数减少,不利于高像素的设计。因此,如何在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。