技术编号：17478787
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及光学测量技术领域，特别是涉及一种上下可调支架。背景技术光学测量仪是用于测量物体轮廓、尺寸的专业设备，普遍应用于轧钢、冶金行业中，光学测量仪一般包括光束发射单元和光束接收单元，光束发射单元发出的光束投射到待测物料上，光束接收单元采集物料上反射的光束信号然后计算出物料的轮廓形状。现有技术中，用于光学测量仪的支架，不仅成本较高而且结构复杂，操作十分繁琐。发明内容本发明的目的在于提供一种上下可调支架，以克服现有技术中的不足。为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：本申请实施例公开一种上下可调支...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。