技术编号：17503533
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光纤领域，尤其涉及的是一种OTDR内部光路检测方法及系统。背景技术在当前4G或者未来更高速传输数据时代，需要高速传输的介质来进行数据传输，光纤在高速通信中起到了重要的作用。光纤决定了光信号的传输的质量好坏，目前使用非常广泛。铺光纤的过程中会使用到OTDR(光时域反射仪)产品，来进行光纤的长度、事件损耗、通断性等的测试，而OTDR的产品内部有光纤光路。现在的光路在熔接好之后，就直接进行盘光路，然后制作半成品，在半成品制作之后，机器检测盘好的光路的好坏，如果是合格的光路，则就进行组装成品，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。