技术编号：17531285
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种向测量对象物照射经过调制的测距光，并接收来自测量对象物的反射测距光，从而根据对测距光分光而得到的内部参考光与反射测距光的相位差来测量距测量对象物的距离的光波测距仪以及反馈信号的调制频率决定方法。背景技术在光波测距仪中，为了高精度地测量距离，需要降低混在照射的测距光中的噪声。作为用于测量距测量对象物的距离的光波测距仪，有使用中频(IF：Intermediate Frequency)的超外差式(Super Heterodyne)的光波测距仪。超外差式的光波测距仪将2个信号的频率差变换为...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。