技术编号：17609771
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种Z箍缩金属丝阵负载结构及丝阵Z箍缩金属丝早期融蚀现象的分析方法。背景技术金属丝阵负载Z箍缩研究近十几年来取得了显著进展，Sandia实验室Z装置(100ns，20MA)上，采用双层丝阵负载(外层直径为7um的240根钨丝构成直径为2cm的丝阵列，内层用120根相同的钨丝构成直径为1cm的丝阵列)，获得了总能量2MJ，辐射功率290TW的软X辐射，能量转换率超过了15％。虽然金属丝阵Z箍缩实验取得了较为瞩目的成果，但是由于内爆过程中各种不稳定性的影响，限制了内爆产额和效率的进一步提升...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。