技术编号：17618619
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及X射线荧光光谱分析技术领域，具体为一种用于上照射式X荧光仪的样品杯托。背景技术X射线荧光光谱分析地质和矿产样品时，一般是将样品制成具有一定直径和厚度、表面平整的圆形粉末压片或玻璃熔片，并放入仪器专用的样品杯中进行测定，而且，X射线荧光分析中，照射样品的深度只有几到几十微米，因此，样品表面的状态是造成分析误差的主要原因，目前，上照射X射线荧光光谱仪配备的样品杯直径在40mm左右，照射窗口在28～32mm，而放置样品的杯托因未采用定位环，导致在往样品杯中放置测量样片时容易使得样片在样品...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。