技术编号:17731734
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及水印算法,特别是一种基于FPGA技术的差错控制芯核水印算法。背景技术随着集成电路制造技术和电路复杂度的提高,单个硅片上的集成度越来越高。同时,人们对集成系统的需求也不断提高,希望在同一个硅片上实现更多的功能,系统芯片集成(SOC)逐渐成为集成电路的主流方向。为了能够更好地解决集成电路设计中的成本、周期、风险等问题,一种广泛应用于企业的知识产权核(IP)复用技术应运而生。IP复用技术指的是在设计高复杂度的集成电路时,直接将已经设计好并通过验证的电路模块引入到电路设计中进行使用。IP核复用...
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