技术编号:17753483
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种表面量测系统。背景技术随着科技的进步,越来越多的电子产品使用透明材质(如玻璃)作为产品组件(如手机面板、手机机壳、透镜)。为了确保品质,透明组件可经由量测而测得其表面形貌。然而透明材质具有低反射率的问题,若要量到足够准确的影像,需要增加量测的曝光时间与/或光源强度。若组件内部或底部具有瑕疵,也可能被量测到,导致信号误判。另外,若组件表面为曲面,也会有多重反射的情况发生。发明内容本发明的一方面提供一种表面量测系统,用以量测具低反射的表面的待测物。表面量测系统包含结露装置与量测装置...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。